Observación de capas de grafeno mediante contraste óptico y dispersión Raman

  • Claudia Bautista Flores Instituto de Investigaciones en Materiales (IIM), UNAM, Apartado postal 70-360, 04510 México, D.F., Tel. 55 48 45 49 21, Fax: 56161251
  • Roberto Ysacc Sato Berrú Centro de Ciencias Aplicadas y Desarrollo Tecnológico, Circuito Exterior s/n, UNAM, Apdo. Postal 70-186, 04510, México, D. F.
  • Doroteo Mendoza López IIM-UNAM
Palabras clave: Contraste óptico, capas de grafeno, electroscopía Raman

Resumen

Resumen: En este trabajo hemos usado la técnica de contraste óptico como herramienta de identificación preliminar y sencilla de capas de grafeno, la cual es más simple en comparación con la propuesta de otros autores y es validada con espectroscopia Raman. Para ello obtenemos grafeno y pocas capas de grafeno por exfoliación mecánica de grafito Kish. Adquirimos imágenes digitales, a través de un microscopio óptico, de las diferentes muestras depositadas sobre un sustrato de silicio con una película de óxido de silicio de 306.2 nm. Con un programa de análisis de imágenes adquirimos la componente verde de los números RGB, tanto de la muestra como del sustrato; con ello, calculamos el contraste óptico y determinamos el número de capas de grafeno. Logramos determinar de una a cuatro capas de grafeno.

Publicado
2015-04-09
Cómo citar
Bautista Flores, C., Sato Berrú, R., & Mendoza López, D. (2015). Observación de capas de grafeno mediante contraste óptico y dispersión Raman. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, 6(11). https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2013.11.50002
Sección
Artículos de investigación