Tomás Quirino, C. y Sancén Contreras, F. 2015. Ubicación de riesgos en el trabajo a nanoescala Una visión desde la ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología. 4, 1 (abr. 2015). DOI:https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2011.1.50989.