Tomás Quirino, C. y Sancén Contreras, F. (2015) Ubicación de riesgos en el trabajo a nanoescala Una visión desde la ética, Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, 4(1). doi: 10.22201/ceiich.24485691e.2011.1.50989.