Tomás Quirino, C., y F. Sancén Contreras. Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una Visión Desde La ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, Vol. 4, n.º 1, Apr. 2015, doi:10.22201/ceiich.24485691e.2011.1.50989.