Tomás Quirino, Carlos, y Fernando Sancén Contreras. Ubicación De Riesgos En El Trabajo a Nanoescala Una Visión Desde La ética. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología 4, no. 1 (abril 12, 2015). Accedido mayo 1, 2024. https://www.mundonano.unam.mx/ojs/index.php/nano/article/view/50989.