Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias

Barra lateral del artículo

PDF XML HTML EPUB
Publicado: abr 12, 2015
DOI: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Palabras clave:
difracción, rayos x, nanociencia

Contenido principal del artículo

Martha Eloísa Aparicio Ceja
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.
Gregorio Guadalupe Carbajal Arizaga
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.

Resumen

Resumen: La difracci.n de rayos x (DRX) es una herramienta que se ha utilizado durante el último siglo para el estudio de minerales, compuestos y materiales. Las nanociencias descubrieron que en dimensiones nanométricas, materiales antes conocidos muestran nuevos fenómenos y propiedades.

Esto llevó a que se aplicaran técnicas de caracterización en estado sólido tradicionales, como la DRX a sistemas nanométricos. En este trabajo recopilamos casos publicados principalmente en América Latina en los que la DRX ayuda resolver problemas en la escala nano.

Detalles del artículo

Cómo citar
Aparicio Ceja, M. E., & Carbajal Arizaga, G. G. (2015). Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, 3(2). https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Número
Vol. 3 Núm. 2 (2010)
Sección
Artículos de investigación

Licencia Creative Commons
Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria en Nanociencias y Nanotecnología, editada por la Universidad Nacional Autónoma de México, se distribuye bajo una Licencia Creative Commons Atribución-NoComercial 4.0 Internacional.
Basada en una obra en http://www.mundonano.unam.mx.