Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias

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Publicado: abr. 12, 2015
DOI: https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Palavras-chave:
difracción, rayos x, nanociencia

Conteúdo do artigo principal

Martha Eloísa Aparicio Ceja
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.
Gregorio Guadalupe Carbajal Arizaga
Centro de Nanociencias y Nanotecnología. Universidad Nacional Autónoma de México. Apdo. Postal 14, CP 22800. Ensenada, Baja California, México. Teléfono: +52 (646) 174 46 02. Fax: +52 (646) 174 46 03.

Resumo

Resumen: La difracci.n de rayos x (DRX) es una herramienta que se ha utilizado durante el último siglo para el estudio de minerales, compuestos y materiales. Las nanociencias descubrieron que en dimensiones nanométricas, materiales antes conocidos muestran nuevos fenómenos y propiedades.

Esto llevó a que se aplicaran técnicas de caracterización en estado sólido tradicionales, como la DRX a sistemas nanométricos. En este trabajo recopilamos casos publicados principalmente en América Latina en los que la DRX ayuda resolver problemas en la escala nano.

Detalhes do artigo

Como Citar
Aparicio Ceja, M. E., & Carbajal Arizaga, G. G. (2015). Utilidad de la difracción de rayos x en las nanociencias. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, 3(2). https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2010.2.52223
Edição
v. 3 n. 2 (2010)
Seção
Artigos de investigação

Licencia Creative Commons
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